原创力文档- 1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
- 2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
- 3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
- 5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次， 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本申请涉及平坦化检测的领域，尤其是涉及一种台面芯片平坦化检测方法、装置、设备及存储介质。方法包括：获取芯片位置信息，对芯片位置信息进行分区组处理，得到至少两个芯片组级以及至少两个芯片组级的相对位置，基于相对位置确定至少两个芯片组级的检测次序，并根据检测次序生成检测移动指令，以控制拍摄装置进行拍摄，得到与至少两组芯片组级对应的芯片图像信息，对芯片图像信息进行分析处理，得到芯片图像地图点，基于芯片图像地图点确定芯片图像信息中每一个图像特征点对应的坐标信息，基于坐标信息对图像特征点中的描述子进行平坦化
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117672891A
(43)申请公布日2024.03.08
(21)申请号202311448893.1
(22)申请日2023.11.02
(71)申请人河北光森电子科技有限公司
地址
文档评论（0）