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本发明公开了一种基于双参考信号的激光信号特性测量方法。其包括：步骤1、将两个参考激光信号与待测激光信号波分复用为一路后进行基于短延时的自零差/自外差探测并解波分复用，然后对所得到的自零差/自外差探测光信号分别进行光电探测，分别得到两个参考和待测激光信号的拍频电信号；步骤2、分别提取待测激光信号的拍频电信号相对于两个参考激光信号的拍频电信号的相对相位数据；步骤3、将两组相对相位数据进行互相关功率谱估计，得到待测激光信号的差分相位噪声功率谱密度，并据此计算出待测激光信号的相位、频率噪声功率谱密度和线
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117664530A
(43)申请公布日2024.03.08
(21)申请号202311676344.XG01J1/42(2006.01)
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