一种面板缺陷严重程度判级方法、系统、设备及存储介质.pdfVIP

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  • 2024-03-09 发布于四川
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一种面板缺陷严重程度判级方法、系统、设备及存储介质.pdf

本发明提供一种面板缺陷严重程度判级方法、系统、设备及存储介质,涉及面板缺陷检测技术领域,所述方法流程为:基于原始图像的缺陷位置标注数据进行模型训练,以得到目标检测网络模型;基于原始图像的线路位置标注数据进行模型训练,以得到语义分割网络模型;基于目标检测网络模型对待检测图像进行预测,以得到缺陷位置;基于语义分割网络模型对待检测图像进行预测,以得到线路位置;基于缺陷位置和线路位置的相交情况进行缺陷严重程度判定,以得到缺陷严重程度的判断结果。本发明基于目标检测网络模型和语义分割网络模型对缺陷和线路进行

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117670876A

(43)申请公布日2024.03.08

(21)申请号202410129562.X

(22)申请日2024.01.31

(71)申请人成都数之联科技股份有限公司

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