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本发明公开了一种半导体激光器的快速测试系统，所述系统包括识别设备、测试设备和上位机；识别设备，用于获取需测试的半导体激光器的设备数据，并将设备数据传送至上位机；上位机，用于将获取的设备数据在存储的多组配置文件中进行匹配，并基于获取的测试请求，将匹配得到的配置文件下发至测试设备；测试设备，用于测试时，根据得到的配置文件设置工作参数，以驱动半导体激光器进行工作，并实时记录半导体激光器的输出数据；上位机，还用于基于采集的输出数据进行曲线绘制和参数计算，实现对半导体激光器性能的快速智能检测；其效果是：无
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117686866A
(43)申请公布日2024.03.12
(21)申请号202311565022.8
(22)申请日2023.11.22
(71)申请人北京航大华力科技有限公司
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