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本申请涉及一种光模块的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。光模块的测试方法包括：基板管理控制器获取目标温度以及测试环境的当前温度；其中，目标温度包括光模块的规格参数中未体现的温度；形成与目标温度以及当前温度二者相关联的反馈参数，利用反馈参数对供电电能进行反馈控制调节，令温度调节模组对当前温度进行调节；其中，供电电能为电源模组输出至温度调节模组作为温度调节模组的电源输入；响应于当前温度与目标温度匹配，允许对光模块进行测试。采用本方法能够搭建丰富的温度环境，集成光模块测试的温度控制功能，从而有利于
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117705407A
(43)申请公布日2024.03.15
(21)申请号202311480700.0
(22)申请日2023.11.08
(71)申请人苏州元脑智能科技有限公司
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