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本发明涉及集成电路领域，公开一种故障关联度的预测方法与系统、多核处理器以及芯片。所述方法包括：确定变电站内的参照设备在发生故障的预设时间段内的标准参数序列与待预测设备在预设时间段内的第一特定参数序列之间的关联系数；根据待预测设备在预设时间段内的第一特定参数序列与待预测设备在待预测时间段内的第一特定参数序列，确定待预测设备的特定参数在不同时间段内的相似度，其中待预测时间段与预设时间段的时长相同；以及根据关联系数与相似度，确定待预测设备与参照设备同时发生故障的关联度。本发明在参照设备出现故障时预测其
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117708603A
(43)申请公布日2024.03.15
(21)申请号202311459092.5G06F11/30(2006.01)
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