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本发明公开了一种红外热像仪的坏元查找方法及装置，属于红外成像领域，该方法包括：获取黑体在第二温度、第四温度下于热像仪中成像的多帧图像，并分别计算两个温度下多帧图像的每个像素均值和整体像素均值；根据第二、四温度的像素均值差，与第二、四温度的整体像素均值差之比，计算每个像素的斜率，并根据每个像素的斜率确定整体像素的平均斜率；计算第二温度下每个像素的均方差，并计算第二温度下整体像素的平均均方差；通过比较每个像素的斜率和整体像素的平均斜率，以及每个像素均方差和整体像素平均均方差，确定整体差异特性下的第一
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117705301A
(43)申请公布日2024.03.15
(21)申请号202311742537.0
(22)申请日2023.12.15
(71)申请人湖北久之洋信息科
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