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本发明公开了一种基于测试设备的存储芯片的修复方法，属于芯片测试技术领域，具体包括：采集存储芯片中的失效单元电路信息；将区块编号作为存储键值，失效单元电路坐标作为存储值，构建X‑Y和Y‑X哈希表结构；对哈希表进行遍历，若存在超过预设阈值的失效单元电路集合，则将该集合称为特定失效单元电路，分配特定类型备用电路修复该区域；若无可用的备用电路，则标记并删除该存储芯片；若不存在超过预设阈值的失效单元电路集合，则将该集合称为稀疏失效单元电路，获取最大的集合值，分配备用电路，若无可用的备用电路，则标记并删除该
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117727356A
(43)申请公布日2024.03.19
(21)申请号202410179287.2
(22)申请日2024.02.18
(71)申请人悦芯科技股份有限
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