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测试用例生成方法、装置、存储介质及电子设备.pdfVIP

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  • 2024-03-20 发布于四川
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测试用例生成方法、装置、存储介质及电子设备.pdf

    本申请公开了一种测试用例生成方法、装置、存储介质及电子设备。该方法包括：确定目标接口需要测试的异常测试场景，并获取异常测试场景中的异常值；获取目标接口的入参数据，并对入参数据中的每个键值对进行遍历，得到每个键值对中的键值以及键值在入参数据中的层级信息；确定待测试的目标键值，并基于目标键值的层级信息获取目标值、目标值的起始地址和目标值的结束地址；基于起始地址和结束地址将入参数据中的所有目标值替换为异常值，得到异常入参数据；基于异常入参数据生成异常测试场景的测试用例。通过本申请，解决了相关技术中异常

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117724969A

    (43)申请公布日2024.03.19

    (21)申请号202311737673.0

    (22)申请日2023.12.17

    (71)申请人天翼电子商务有限公司

    地址10

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