半导体工艺-集成电路制造技术-答案-1-2单元.docVIP

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  • 2024-03-24 发布于江苏
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半导体工艺-集成电路制造技术-答案-1-2单元.doc

第一单元习题

以直拉法拉制掺硼硅锭,切割后获硅片,在晶锭顶端切下的硅片,硼浓度为3×1015atoms/cm3。当熔料的90%已拉出,剩下10%开始生长时,所对应的晶锭上的该位置处切下的硅片,硼浓度是多少?

已知:C0B=3×1015atoms/cm3;kB=0.35;由得:

硅熔料中硼的初始浓度为:

C0l=C0B/kB=3×1015/0.35≈8.57×1015atoms/cm3

由得:

剩下10%熔料时,此处晶锭的硼浓度为:

C90%B=kBC0l×0.1kB-1=0.35×8.57×1015×0.10.35-1=

硅熔料含0.1%原子百分比的磷,假定溶液总是均匀的,计算当晶体拉出10%,50%,90%时的掺杂浓度。

已知:硅晶体原子密度为:5×1022atoms/cm3,含0.1%原子百分比的磷,熔料中磷浓度为:

C0p=5×1022×0.1%=5×1019atoms/cm3;kp=0.8

由计算得:

C10%p=kPC0p×0.9kp-1=0.8×5×1019×0.9-0.2=4.09×1019atoms/cm3

C50%p=0.8×5×1019×0.5-0.2=4.59×1019atoms/cm3

C90%p=0.8×5×1019×0.1-0.2=6.34×1019atoms/cm3

比较硅单晶锭CZ、MCZ和FZ三种生

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