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本实用新型属于集成电路芯片检测技术领域，尤其涉及一种可调节式集成电路芯片测试台，包括测试台和支撑腿，所述测试台的上表面设置有检测装置，所述测试台的上方设置有调节抓取装置，所述调节抓取装置包括调节单元、移动单元、升降单元和抓取单元。该可调节式集成电路芯片测试台，通过升降单元中下移的升降杆带动橡胶吸盘下移与芯片表面接触，升降杆继续下移，从而对橡胶吸盘产生向上的力，从而将橡胶吸盘内部的空气挤出，从而使橡胶吸盘将芯片吸取住，拿取更方便，在橡胶吸盘向上排挤空气时，滑杆在滑柱的内部向上移动，进而挤压缓冲弹簧
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号CN220626441U
(45)授权公告日2024.03.19
(21)申请号202322168373.7
(22)申请日2023.08.11
(73)专利权人成都玖光科技有限公司
地址6
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