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用于评估在运行中承受负载的半导体结构组件、特别是驱动转换器的损坏状态的方法，半导体结构组件包括至少一个设置在承载结构(2)上或中的半导体结构元件(1)，其中，不仅能够为整个半导体结构组件估计损耗的寿命，而且也能够探测半导体结构组件的意外的或不期望的负载状态并继而探测残留寿命的过早减少。由此已经在半导体结构组件运行期间就能够实现持续的负载评估，其允许及时的干预。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN113646647A
(43)申请公布日2021.11.12
(21)申请号202080020153.6(74)专利代理机构中国贸促会专利商标事务所
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