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太赫兹低噪声放大器芯片的噪声系数测试系统及测试方法.pdfVIP

太赫兹低噪声放大器芯片的噪声系数测试系统及测试方法.pdf

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    本发明公开了一种太赫兹低噪声放大器芯片的噪声系数测试系统，包括冷热源、太赫兹接收前端、天线、运动载台和总控制系统，所述运动载台用于搭载天线、待测样品和太赫兹接收前端，并使天线移动至冷源下方或者热源下方，冷热源分别提供冷源热源辐射，天线用于接收冷热源的辐射；太赫兹接收前端分别连接信号源和频谱仪，太赫兹接收前端用于对信号源输出的源信号进行倍频后与天线输出信号或者待测样品输出信号混频和滤波并输出至频谱仪，频谱仪用于测试其所接收到的系统功率；所述总控制系统用于控制运动载台移动、设定测试频率和参数、采集和

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117723851A

    (43)申请公布日2024.03.19

    (21)申请号202311741235.1

    (22)申请日2023.12.18

    (71)申请人中国电子科技集团公司第五十五研

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