原创力文档- 15
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- 2024-03-20 发布于四川
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基于行列扫描的ILV故障测试电路及测试方法，涉及集成电路测试与可测性设计领域。本发明是为了解决现有针对ILVs的故障测试方法中多数方法电路占用面积大，而电路占用面积小的方法又无法对故障进行定位的问题。本发明输入移位寄存器的测试信号输入端作为所述ILV故障测试电路的测试信号输入端，输入移位寄存器的测试信号输出端分别与菊花链一一对应，输入移位寄存器的每个测试信号输出端均与其对应菊花链的测试信号输入端相连；输出移位寄存器的测试信号输出端作为ILV故障测试电路的测试信号输出端，输出移位寄存器的测试信号输
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117727357A
(43)申请公布日2024.03.19
(21)申请号202311742019.9
(22)申请日2023.12.18
(71)申请人黑龙江大学
地址150080
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