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本发明提供GIS内部绝缘放电类型多光谱特征分析方法及系统,方法包括:进行密封气室实验,气室内采用SF6气体填充,模拟GIS内部环境,采用不同方式进行放电,模拟GIS的绝缘缺陷造成的不同放电故障,采用光谱仪,对紫外光谱、可见光谱和红外光谱进行采集与记录;数据挖掘,对数据归一化处理,并通过分割聚类算法辨识出光谱数据中的峰值特征,去除因放电时长对光谱数据造成的干扰;利用卷积神经网络建立放电类型识别模型,输入为采集的光谱数据A,输出为放电缺陷类型。本发明解决了GIS内部绝缘缺陷导致的放电故障类型识别易受
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117741357A
(43)申请公布日2024.03.22
(21)申请号202311689722.8(74)专利代理机构合肥市浩智运专利代理事务
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