1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内专利

存储器的测试方法、装置、设备及介质.pdfVIP

  • 3
  • 0
  • 约3.89万字
  • 约 32页
  • 2024-03-27 发布于四川
  • 举报

存储器的测试方法、装置、设备及介质.pdf

    本公开提供了一种存储器的测试方法、装置、设备及介质，涉及半导体存储器领域。该方法包括：获取待测存储器的内存地址段的开始地址和结束地址；在由开始地址至结束地址的地址范围中，选取初始地址；基于初始地址和LFSR，生成在地址范围内的多个随机地址，以利用多个随机地址对待测存储器进行读写测试。根据本公开实施例，能够提高半导体存储器的测试精度。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117766009A

    (43)申请公布日2024.03.26

    (21)申请号202211139503.8

    (22)申请日2022.09.19

    (71)申请人长鑫存储技术有限公司

    地址23

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >