1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内专利

存储器内建自测试方法及其装置.pdfVIP

  • 3
  • 0
  • 约2.69万字
  • 约 20页
  • 2024-03-27 发布于四川
  • 举报

存储器内建自测试方法及其装置.pdf

    本公开实施例提供存储器内建自测试方法及其装置。所述测试方法包括：将待测存储器的行地址划分为多个行地址集，以及将每个所述行地址集划分为多个行地址子集；对多个所述行地址集并行进行第一测试数据的写入，针对每个所述行地址集，所述第一测试数据的写入包括：将所述第一测试数据依次写入多个所述行地址子集中的每个所述行地址子集对应的存储单元中；在将所述第一测试数据写入每个所述行地址子集后，对所述待测存储器执行第一刷新操作；等待预设时长后，依次从各个所述行地址集对应的存储单元中读取第一输出数据；根据所述第一测试数据

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117766010A

    (43)申请公布日2024.03.26

    (21)申请号202211139599.8

    (22)申请日2022.09.19

    (71)申请人长鑫存储技术有限公司

    地址23

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >