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本发明涉及一种基于特征融合和注意力机制的激光器芯片缺陷检测方法,用以提高对芯片缺陷自动判断的准确率和检测速率,实现对激光器芯片光学灾变损伤缺陷成因的自动智能判别。本发明采用的检测模型包括fasterR‑CNN模型,该模型包括特征提取网络、区域候选网络RegionProposalNetworks(RPN)、兴趣域池化层RoIPooling以及分类与回归层ClassificationandRegression;在fasterR‑CNN模型中嵌入一个ResNet‑101模型,即特征提取网
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117764950A
(43)申请公布日2024.03.26
(21)申请号202311788874.3G06V10/764(2022.01)
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