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本公开提供一种探测装置、测试座、电路结构、测试装置和终端。本公开提供的探测装置，包括：探测件，具有探测端；外壳，套在所述探测件的外周并与所述探测件相连接，所述外壳的第一端具有与所述探测端对应的开口；其中，所述探测端在所述外壳的横截面的投影，与所述横截面的几何中心不重叠。本公开提供的探测装置通过能够以第一插入状态和第二插入状态插入与其适配的测试座，从而无需将测试座取下并转向就可以对第一导电件连接的电路以及第二导电件连接的电路进行测试。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN113495172A
(43)申请公布日
2021.10.12
(21)申请号20201
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