测量仪器的刻度和校准方法.pptxVIP

9.3测量仪器的刻度和校准方法X、γ剂量仪的刻度方法分标准仪器法和标准源法两种。测量能量低于300kev以下的X和γ射线的仪表通常使用过滤的或荧光X射线作为辐射源，采用标准仪器比较法进行刻度。在其它情况下可使用γ放射性核素作为辐射源，采用标准源法比较适宜。在需要时，两种方法可以同时使用。9.2.1标准仪器法图2.1用重过滤X射线进行刻度的示意图如图2.1所示。将待刻度仪表和标准仪器一起置于均匀的辐射场中，并使两者探测器的有效中心与X射线管的焦斑处与同样的距离，其相应的读数分别为Rs1和Rf1，然后交换两者探测器的位置，另一次读数分别为Rs2和Rf2，则有：9.2.1标准仪器法Rs1·Ns1=Rf1·Nf1或Nf1=（Ns1??Rs2·Ns2=Rf2·Nf2或Nf2=（Ns2式中Rs1、Rs2为标准仪器在辐射场中交换位置前后分别的读数；Ns1是标准仪器的刻度因子，表示在国家标准辐射场中给出的标准剂量值与标准仪器数值之比；Nf1、Nf2,则为待刻度仪器在刻度辐射场中交换位置前后的核度因子，即分别表示标准仪器先后测出的辐射剂量置于被刻度仪器先后相应读数的比值。那么，待刻度仪表的刻度因子(平均值）Nf为Nf=?9.2.1标准仪器法在实际应用中只要测出某辐射场中仪器读数，乘以仪器刻度因子，即可得到辐射场的剂量。另外，在有些情况下，若辐射场的均匀性不够，以致不允许同时放置两个探测器，这时采用替代法，即:将标准仪器放进辐射场中，记下其读数，然后将待刻度的仪表准确地放于同一位置，比较它们的读数，就得到刻度的结果。这个方法需要在辐射场中附加一个监督电离室检验X射线机输出量的变化，以便对其变化进行修正。9.2.2标准源法图2.2标准源刻度装置示意图如图2.2所示，表示用放射性核素标准源刻度仪器的实验装置。经国家基准检定后的γ标准源放在源支架上，仪器台上放者待刻度的仪器。通过测高仪探测器的有效中心与放射源心在同一水平线上，这时，仪表在刻度点上的照射量率可由下式计算：9.2.2标准源法?·KdKG式中,X100为标准γ源在1m处产生的照射量率，C.kg-1。Re为源至探测器有效中心的即距离,cm;?μ是辐射在空气中的线性减弱系线,cm-1;Kd是考虑到源本身衰变的校正系数，即式中，t为标准源的刻度日期到用于仪器长度工作日期之间的时间间确:?T是放射性枝案的半衰期。9.2.2标准源法?kG是考虑到仪器的大小的校正系数。如对球状电离室为?式中，γ是电离室半径;?R是电离室中心到源心的距离。对于圆柱状电离室的kG值可查阅有关著作的表格得到。引起刻度仪器误差的因素较多，如不同的能谱：不同的照射量率；辐射场的均匀性不同:在X和γ射线刻度情况下，不同次级电子作用：不同的环境条件(包括气压、温度、湿度和本底辐射)以及电子学记录的非线性等。因此，在仪器刻度过程中，要根据待刻度仪表级别要求，适当控制各种因素，达到一定的准确度要求。