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波谱分析第三章

02红外光谱仪

一、仪器类型与结构

色散型

干涉型（付立叶变换红外光谱仪）

1.红外光谱仪

色散型：与双光束UV-Vis仪器类似，但部件材料和顺序不同。

置于吸收池之后可

调节T%

避免杂散光的干扰

或称基线调平器

色散型双光束红外光谱仪方框图

红外光谱仪的主要部件

光源:常用的红外光源有Nernst灯和硅碳棒。

吸收池:红外吸收池使用可透过红外的材料制成窗片；

不同的样品状态（固、液、气态）使用不同的样品池，固

态样品可与晶体混合压片制成。

单色器:

由色散元件、准直镜和狭缝构成。其中可用几个光栅来

增加波数范围，狭缝宽度应可调。

狭缝越窄，分辨率越高，但光源到达检测器的能量输出

减少。为减少长波部分能量损失，改善检测器响应，通常

采取程序增减狭缝宽度的办法，即随辐射能量降低，狭缝

宽度自动增加，保持到达检测器的辐射能量的恒定。

检测器及记录仪:

红外光能量低，因此常用热电偶、测热辐射计、热释电

检测器和碲镉汞检测器等。

以光栅为分光元件的红外光谱仪不足之处：

1）需采用狭缝，光能量受到限制

2）扫描速度慢，不适于动态分析及和其它仪器联用

3）不适于过强或过弱的吸收信号的分析。

傅里叶变换红外光谱仪工作原理图

迈克尔干涉仪工作原理图

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2.多重衰减全反射（ATR)

对一些不溶、不熔且难粉碎的试样及不透明表面的涂层可

采用ATR测定。

一束红外光射入具有高折射指数的晶体后如果在晶体与样

品的界面处，光的入射角大于临界角，则光线几乎完全由此

界面上发生全反射。

但光线要稍许穿反射表面之下才反射回来。

样品

n

1入射光出射光

d

p

n

2

样品

L1

N=cosd=n

dp2221/2

2sin-(n)

1

常用反射晶体：GeAgClKRS-5Si

n422.43

使用波长/211.50.4230.53526.2

ATR法应用很广，其最大特点是不需进行复杂的分离，

不破坏试样就可进行分析。

主要应用：（1）薄膜分

（2）纸与纸上涂层

（3）粉末（药剂）

（4）纤维与织物

（5）泡沫材料

（6）环境研究

使用时注意：

（1）必须使固体样品具有光滑的平面。

（2）样品不能和反射晶体发生化学反应。

3．漫反射技术

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