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KGD芯片高低温循环测试分选设备及其测试方法.pdfVIP

KGD芯片高低温循环测试分选设备及其测试方法.pdf

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    本发明属于半导体测试技术领域，公开了一种KGD芯片高低温循环测试分选设备及其测试方法。其包括工作台以及依次设置于工作台的蓝膜供料机构、高低温测试机构和蓝膜下料机构，蓝膜供料机构用于供给待测试的芯片；蓝膜下料机构用于将完成测试的芯片进行下料；高低温测试机构包括转盘和多个周向分布的测试工位，转盘上设有多个周向分布的测试组件，测试组件与测试工位一一对应设置，测试组件均包括至少一个高温测试座和至少一个常温测试座，高温测试座和常温测试座均用于放置芯片，高温测试座用于加热芯片至高温状态，常温测试座用于芯片降

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117783834A

    (43)申请公布日2024.03.29

    (21)申请号202410120810.4

    (22)申请日2024.01.29

    (71)申请人苏州韬盛电子科技有限公司

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