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本公开提供一种用于存储器的测试电路及方法。测试电路包括:第一数据行读写检测电路,用于读取第一行中的第一读出数据以及获取写入第一行中的第一写入数据,根据第一写入数据检测第一读出数据获得第一读出数据的第一检测结果;第一数据行失败比特计数电路,用于获得第一读出数据中检测失败的第一比特计数结果;第二数据行读写检测电路,用于读取第二行中的第二读出数据以及获取写入第二行中的第二写入数据,并根据第二写入数据检测第二读出数据获得第二读出数据的第二检测结果;第二数据行失败比特计数电路,用于获得第二读出数据中检测失
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117789801A
(43)申请公布日2024.03.29
(21)申请号202211154211.1
(22)申请日2022.09.21
(71)申请人长鑫存储技术有限公司
地址23
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