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本发明公开了一种面向复杂光照环境的产品表面缺陷检测方法，包括：采集缺陷图像样本，标注缺陷检测框和缺陷类别，随后对缺陷图像进行预处理，制作缺陷图像数据集；建立表面缺陷检测总体框架，包括用于粗检测的基于ResNet改进的表面缺陷识别网络和用于精检测的目标检测网络；分别对所述表面缺陷识别网络、目标检测网络进行训练；采集待检测的缺陷图像，将缺陷图像缩放至设定尺寸，得到输入图像；将输入图像输入表面缺陷检测总体框架中，获得检测结果。采用本发明，通过本发明的方法在复杂光照条件下，通过粗检测和精检测结合的检测框
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117808744A
(43)申请公布日2024.04.02
(21)申请号202311646174.0G06N3/0464(2023.01)
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