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本申请公开了一种内存性能测试方法、装置、设备及存储介质，涉及计算机技术领域，应用于集成有现场可编程逻辑门阵列和系统级芯片的智能网卡，其中，现场可编程逻辑门阵列预先挂载多路双倍速率同步动态随机存储器，并在内部集成双倍速率同步动态随机存储器的控制器，包括：当监测到需要进行性能测试时，从系统级芯片中编写的多种内存性能测试脚本中确定出目标性能测试脚本，并在系统级芯片上运行目标性能测试脚本；通过目标性能测试脚本调用PCIe读写工具，并在系统级芯片下通过PCIe读写工具对控制器进行操作，以对双倍速率同步动态
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117806932A
(43)申请公布日2024.04.02
(21)申请号202311862670.X
(22)申请日2023.12.29
(71)申请人苏州元脑智能科技有限公司
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