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缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质.pdfVIP

缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质.pdf

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    本申请实施例提供了一种缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质。所述缺陷检测方法包括：确定待测目标的主体区域的边缘线；拟合出在所述待检测目标上且由所述边缘线包围的所述主体区域所在的主体区域平面；利用所述主体区域对应的第一点云数据及其与所述主体区域平面的位置关系来确定所述待测目标的翘曲度。利用所述翘曲度确定所述待测目标是否存在缺陷。本方案可以利用与主体区域对应的点云数据来确定所述主体区域的翘曲度，从而能够快速且准确地确定所述待测目标的翘曲度。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117808751A

    (43)申请公布日2024.04.02

    (21)申请号202311783896.0G06T7/73(2017.01)

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