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本发明公开了一种放样测量方法，包括：采用全站仪测量一已知坐标的参照点位于所述三维坐标系内的参照三维坐标，并根据所述参照三维坐标和所述第一三维坐标确定所述基准点的第一坐标；采用第二RTK仪器作为流动站，将所述流动站放置于一已知坐标的第一控制点，在所述流动站和所述基准站之间采用测回法测量所述基准点的第二坐标；根据所述第二坐标对所述第一坐标进行校核；将所述流动站从所述第一控制点移动至待测点，以获取所述待测点位于所述三维坐标系内的测定三维坐标，并根据所述测定三维坐标、所述最终三维坐标和所述最终坐标以计算
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117805872A
(43)申请公布日2024.04.02
(21)申请号202311824338.4G01S19/41(2010.01)
(22)申请日2023.12.
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