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本发明公开了一种装备用电子产品多应力步降加速寿命试验方法，属于加速寿命试验领域，通过在温度应力、湿度应力、振动应力、电应力、温度循环应力及其组合等各种应力条件下的失效机理和形式进行分析和构建相应的加速寿命模型，进而能够根据累积损伤叠加法分析多应力综合作用，对所选定的步降加速应力水平制定多应力步降加速试验谱。本发明提出多应力步降加速寿命试验设计、制定、试验数据建模分析的整个试验流程，形成了一套电子产品多应力步降加速寿命试验方法。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117807828A
(43)申请公布日2024.04.02
(21)申请号202311771780.5G06F119/14(2020.01)
(22)申请日2023.12
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