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本实用新型涉及芯片测试技术领域，提供一种测试探针，包括工作台和硅胶条，所述工作台内部的一侧设置有硅胶条，所述硅胶条的底端设置有针本体，所述针本体顶端的一侧设置有芯片，所述硅胶条顶端的拐角位置处均设置有固定结构。本实用新型通过设置有硅胶条和针本体，在工作时，硅胶条产生弹力压在针本体顶端的一侧，通过硅胶条和针本体中间支点旋转，针本体顶端远离硅胶条的一侧接触在芯片的底端，在弹力的作用下，针本体的顶端始终接触在芯片的底端，使该装置接触性良好，信号传递稳定可靠，实现了该装置具有信号传递稳定的功能，从而提高
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号CN220709233U
(45)授权公告日2024.04.02
(21)申请号202322284130.X
(22)申请日2023.08.24
(73)专利权人苏州微缜电子科技有限公司
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