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本申请涉及轨道交通设备测试领域，特别是用于IGBT芯片(1)测试的适配器及测试设备。该适配器包括一个框架(3)、一个检测板(4)、一个安装座(5)，以及一个升降气缸(61)。在对IGBT芯片(1)测试的过程中，将IGBT芯片(1)放置在安装座(5)上，然后升降气缸(61)驱动安装座(5)上升至IGBT芯片(1)的集电极(C)、发射极(E)和门极(G)与检测板(4)的探针组件(41)接触，测试设备的控制器(220)即可对IGBT芯片(1)的测试过程进行控制。如此，该IGBT芯片(1)的测试过程更简
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号CN220709212U
(45)授权公告日2024.04.02
(21)申请号202322156227.2
(22)申请日2023.08.11
(73)专利权人西门子轨道交通设备（天津）有限
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