一种芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质.pdfVIP

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2024-04-06 发布于四川
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本公开提供了一种芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质，其中，该方法包括：获取待测芯片对应的待测计算库的测试配置信息；其中，所述测试配置信息中包含与所述待测计算库中的算子对应的测试用例；在所述测试配置信息对应的测试环境中，根据测试用例对所述待测计算库中的算子进行功能测试，得到用于表征所述待测芯片在执行各算子时计算准确度的功能测试结果；在所述测试配置信息对应的测试环境中，根据测试用例对所述待测计算库中通过功能测试的目标算子进行性能测试，得到用于表征所述待测芯片在执行各目标算子时计算速度的性能测试

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117825912A

(43)申请公布日2024.04.05

(21)申请号202311603384.1

(22)申请日2023.11.28

(71)申请人北京市商汤科技开发有限公司

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