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- 2024-04-06 发布于四川
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本发明涉及一种用于确定半导体开关(2)的阻挡层的温度的方法，其中，至少在所述半导体开关(2)的接通过程期间监控在所述半导体开关(2)的源极接头(S)和所述半导体开关(2)的开尔文源极接头(S′)之间的第一电压(VS′S)，并且其中，根据所述第一电压(VS′S)确定所述阻挡层的温度。规定，监控是否存在与温度无关的第一触发器，监控是否存在与温度相关的第二触发器，其中，在检测到超过预定的第一阈值(Vref1)的第一电压(VS′S)时确认了存在第二触发器，求取以检测到第一触发器为开始并且以检测到第二触发
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117836595A
(43)申请公布日2024.04.05
(21)申请号202280056705.8(74)专利代理机构中国专利代理(香港)有限公
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