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半导体制造过程中质量计量装置，属于半导体生产技术领域，为了解决现有的电子皮带秤无法处理非标准的半导体件，依靠人工站在生产线一侧进行手动处理，处理效率较差的问题；本发明通过在皮带秤本体两侧直轨顶端开设安装槽活动安装标记分类组件，利用电动伸缩杆带动标记分类组件移动，质量计量设备对半导体块进行质量计量后，标记分类组件根据检测结果选择性对半导体块进行标记处理，并将半导体块移动至输送带上与接料斜槽上分料通道的对应处，借助输送带移动将半导体块投放至相应的分料通道内，对半导体块自动进行分类处理；本发明实现了半
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117816560A
(43)申请公布日2024.04.05
(21)申请号202310026120.8B65G43/02(2006.01)
(22)申请日2023.01.
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