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本发明提供了基于Teflon和金纳米星的SERS荧光双模式光纤检测器及制备方法。双模式光纤检测器主要由输入/输出多模光纤、锥形光纤、Teflon膜、金纳米星膜组成。双模式光纤检测器件的制备方法包括：Ⅰ)电弧放电、加热熔融法加工多模光纤，得到锥形光纤；Ⅱ)超声清洗锥形光纤去除表面灰尘；Ⅲ)采用磁控溅射镀膜方式对锥形光纤的半侧面镀Teflon膜；Ⅳ)采用化学镀的方式在所述锥形光纤空白半侧面组装金纳米星膜，即制备得到了基于Teflon和金纳米星的SERS荧光双模式光纤检测器。本发明能够实现表面增强拉曼
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117825350A
(43)申请公布日2024.04.05
(21)申请号202310700581.9
(22)申请日2023.06.14
(71)申请人中国计量大学
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