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本申请涉及锂电池技术领域，公开了一种基于电池阻抗谱的锂电池SEI膜生长厚度估计方法，包括进行锂电池全生命周期多老化应力交叉测试实验，同时在不同老化阶段进行对应的电池阻抗谱测试实验，并设置阻抗谱测试频率f；在锂电池不同老化点完成SEI膜生长厚度表征，在步骤一进行过程中，选择测试的锂电池进行拆解表征并测量SEI膜生长厚度；采用随机森林算法构建基于电池阻抗谱的内部SEI膜厚度估计模型。通过随机森林数据驱动算法将锂电池内部不易观测的SEI膜生长厚度与容易测量的电池外部阻抗之间建立了映射关系，从
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117825976A
(43)申请公布日2024.04.05
(21)申请号202311778251.8G01R31/396(2019.01)
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