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ICS59.060.20
CCSW52
团体标准
T/CSTMXXXXX—XXXX
碳材料不同物相的含量测定
X射线粉末衍射法
DeterminationoftheContentsofDifferentPhasesinCarbonMaterials
ByX-RayPowderDiffractionMethod
202X-XX-XX发布202X-XX-XX实施
中关村材料试验技术联盟发布
T/CSTMXXXXX—XXXX
碳材料不同物相的含量测定X射线粉末衍射法
警告——使用本文件的人员应有正规实验室工作的实践经验。本文件并未指出所有可能的安全问题。
使用者有责任采取适当的安全和健康措施,并保证符合国家有关法规规定的条件。
1范围
本文件规定了利用X射线粉末衍射仪测定碳材料中无定型碳、类石墨碳和石墨碳的含量和微观结
构的方法。
本文件适用于纯碳材料样品,包括石墨化碳材料样品和含有其他非碳晶相的炭材料样品中各物相
含量和微观结构参数的测定。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,
仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本
文件。
JY/T0587多晶体X射线衍射方法通则
JJG629多晶X射线衍射仪
ASTM-D5187StandardTestMethodforDeterminationofCrystalliteSize(Lc)ofCalcinedPetroleum
CokebyX-RayDiffraction
QJ2507碳素材料微观结构参数测试方法
GB/T6379.2测定方法与结果的准确度
3术语和定义
JY/T0587、ASTM-D5187、QJ2507界定的术语和定义适用于本文件。
3.1
物相phase
具有相同化学组成和特有三维周期性排列的晶体物质。
[来源:JY/T0587—2020,3.22]
3.2
晶胞参数unitcellparameters
描述平行六面体形晶胞的参数,即三个边的长度a,b,c及它们间的夹角á(b边和c边之夹角)、â
(a边和c边之夹角)、γ(a边和b边之夹角)。
[来源:JY/T0587—2020,3.6]
3.3
Rietveld全谱拟合Rietveldwholepatternfitting
1
T/CSTMXXXXX—XXXX
由若干个可变参数(包括结构、峰形、织构、背底等)计算得到粉末衍射谱,通过精修其中一些参
数,使整个计算衍射谱与实验测定谱相吻合的过程。
[来源:JY/T0587—2020,3.31]
3.4
晶面间距interplanarspacing
晶体中两个相邻平面点阵间的垂直距离。常用符号“d”表示。
[来源:JY/T0587—2020,3.9]
3.5
积分强度intergratedintensity
衍射峰轮廓线以下背底以上的峰面积。
[来源:JY/T0587—2020,3.18]
4原理
采用PONCKS方法计算建立碳材料样品中非晶碳相和类石墨碳相的结构模型,利用建立的结构模型
进行全谱拟合分峰,把碳材料的X射线衍射谱图准确的分解为背底散射、无定型碳、类石墨碳和石墨碳
四
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