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微小缺陷低频超声多分辨扫描成像定量检测方法，属于超声无损检测技术领域。该方法中将采集的编码超声A扫描信号裂谱分析分解为具有不同中心频率fi的子信号，对相同fi子信号进行幅值成像，识别图像中幅值一半测定的缺陷尺寸di，依据声场指向性函数对di与fi做线性拟合，拟合线斜率k=‑0.01对应的di即为缺陷定量尺寸。该方法发展了低频超声多分辨扫描成像技术实现微小缺陷尺寸的定量检测，用低频超声即可实现不低于3倍高频的检测效果，克服了高频聚焦探头检测深度浅及信噪比低、“‑6dB法”需要探头分辨率小于缺陷尺寸
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117849183A
(43)申请公布日2024.04.09
(21)申请号202311823697.8
(22)申请日2023.12.27
(71)申请人大连理工大学
地址1160
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