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本发明涉及一种可加速阵列式X光传感模组测试的方法及装置，其包括：提供测试用的X光光源以及布置在所述X光光源出光范围内的多个阵列式X光传感模组，其中，在每个阵列式X光传感模组的前方均配置挡板，X光光源所发射的X光光束经相应挡板的挡板孔入射至相应阵列式X光传感模组的阵元上；对X光光源出光范围内的阵列式X光传感模组测试时，获取每个阵列式X光传感模组的辐照测试状态，其中，将基准测试传感模组的辐照测试状态配置为基准辐照测试状态，将其余阵列式X光传感模组的辐照测试状态与所述基准辐照测试状态比对，以确定每个X
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117849583A
(43)申请公布日2024.04.09
(21)申请号202311850207.3
(22)申请日2023.12.29
(71)申请人无锡华芯微探科技有限公司
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