芯片测试机时钟同步方法、装置、电子设备和存储介质.pdfVIP

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2024-04-10 发布于四川
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本申请涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种芯片测试机时钟同步方法、装置、电子设备、存储介质。芯片测试机包括主背板以及若干个从背板，主背板包括高精度时钟芯片以及第一可编程逻辑芯片，方法包括：响应于进行时钟同步处理的指令，配置并发送预设频率的低频检测时钟信号；当检测到低频检测时钟信号时，基于高精度时钟芯片配置目标频率的高精度时钟信号，目标频率高于预设频率；当验证第一可编程逻辑芯片和第二可编程逻辑芯片当前获取的时钟信号满足预设的状态约束条件时，基于高精度时钟芯片发送高精度时钟信号至第一可编程逻辑芯片和

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117850540A

(43)申请公布日2024.04.09

(21)申请号202410046697.X

(22)申请日2024.01.12

(71)申请人苏州华兴源创科技股份有限公司

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