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本申请公开了一种智能设备的充电测试方法及其测试装置，其中，智能设备的充电测试方法包括：获取到智能设备的最大充电电流，基于最大充电电流选择测试装置的对应阻值的测试电阻；智能设备包括相互连接的第一分压电阻和第二分压电阻，将测试装置的测试电阻的两端连接到第二分压电阻的两端并联，以使在测试时测试电阻与第二分压电阻的并联电压与最大充电电流对应。通过上述方式,能够满足智能设备主板在生产过程中进行大批量测试的需求。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117849575A
(43)申请公布日2024.04.09
(21)申请号202311596305.9
(22)申请日2023.11.27
(71)申请人江西天珑通讯科技
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