Virtex-5系列SRAM型FPGA单粒子效应重离子辐照试验技术研究.pdfVIP

·304计算机测量与控制.2024.32（1）试验与评价技术

ComputerMeasurementControl

文章编号：1671-4598(2024)01-0304-08DOI:10.16526/ki.11-4762/tp.2024.01.043中图分类号：TP27；TP274文献标识码：A

Virtex-5系列SRAM型FPGA单粒子效应

重离子辐照试验技术研究

赖晓玲1,²，郭阳明1，巨艇²，朱启?，贾亮2

（1．西北工业大学计算机学院，西安710072;

2．中国空间技术研究院西安分院，西安710000)

摘要：针对SRAM型FPGA在空间辐射环境下易发生单粒子效应，影响星载设备正常工作甚至导致功能中断的问题，开展

了SRAM型FPGA单粒子效应地面辐照试验方法研究，提出了配置存储器（CRAM）和块存储器（BRAM）的单粒子翻转效应

测试方法，并以Xilinx公司工业级Virtex-5系列SRAM型FPGA为测试对象，设计了单粒子效应测试系统，开展了重离子辐照

试验，获取了器件的单粒子门锁试验数据和CRAM、BRAM以及典型用户电路三模允余前后的单粒子翻转试验数据；最后利用

空间环境模拟软件进行了在轨翻转率分析，基于CREME96模型计算得到XC5VFX130T器件配置存储器GEO轨道的单粒子翻转

概率为6.41X10-7次/比特·天。

关键词：SRAM型FPGA；单粒子效应；单粒子翻转；单粒子闫锁；重离子辐照试验

ResearchonHeavyIonIrradiationTestMethodforSingleEventEffectsof

Virtex-5SRAMFPGA

LAIXiaolingl?,GUOYangming,JUTing,ZHUQi?,JIALiang?

(1.SchoolofComputerScience,NorthwesternPolytechnicalUniversity,Xian71oo72,China;

2.XianInstituteofSpaceRadioTechnology,Xian710000,China)

Abstract:ToaddresstheproblemthatSRAMFPGAispronetosingleeventeffect(SEE)inspaceradiationenvironment,which

mayaffectthenormaloperationofspaceborneelectronicequipmentorevenleadtofunctionalinterruptions,aresearchontheground

irradiationtestmethodofSRAMFPGAsSEEwasconducted,Thesingleeventupset(SEU)testmethodofCRAMandBRAMwas

proposed.ThetestsystemwasdesignedusingtheXilinxVirtex-5seriesindustrial-gradeSRAMFPGAasthetestobject,andthe

heavyionirradiationtestwascarriedout.Thedevicessingleeventlatch-up(SEL)testdataandtheSEUtestdataofCRAM,

BRAM,andthetypicalusercircuitsbefore