一种柱面排布平晶阵列衍射谱仪及测量方法.pdfVIP

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2024-04-13 发布于四川
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一种柱面排布平晶阵列衍射谱仪及测量方法.pdf

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本发明涉及一种柱面排布平晶阵列衍射谱仪，包括射线源定位器、柱面排布平晶阵列衍射结构、信号收集系统定位器、辐射‑光转换系统、环形光收集及传输系统、光电探测器阵列、信号接收及处理系统、触发系统、分光棱镜、大面积成像探测器。还涉及衍射谱仪测量方法，包括X射线衍射聚焦、辐射‑光转换、可见光分光调制，将光收集及传输、可见光成像以及数据采集与存储的过程。本发明衍射谱仪通过将平晶进行柱面排布，提高了弱脉冲信号的测量能力；采用垂直轴线的辐射‑光转换系统，提高了衍射谱仪的集成度；采用分光棱镜分光，实现了衍射X射线

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117871569A

(43)申请公布日2024.04.12

(21)申请号202311847578.6

(22)申请日2023.12.28

(71)申请人北京钢研高纳科技

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