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一种封装外壳插入损耗测试装置及方法.pdfVIP

一种封装外壳插入损耗测试装置及方法.pdf

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    本发明涉及封装外壳技术领域，公开了一种封装外壳插入损耗测试装置及方法，其装置包括工作台，工作台上设有支架，支架上安装有可调节的传动组件，传动组件的输出端上设有支撑组件，支撑组件上水平安装有第一网络分析仪和第二网络分析仪，第一网络分析仪和第二网络分析仪的检测端分别连接有待测试件和标准件，在工作台上设有放置槽，待测试件和标准件均水平放置于放置槽内。本发明可以消除测试设备和参考标准连接器的不确定度，提高测试精度，使用了两个网络分析仪，可以在更广泛的频率范围内进行测试，同时利用二次串联，可以同时测量连接

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117890635A

    (43)申请公布日2024.04.16

    (21)申请号202410306665.9

    (22)申请日2024.03.18

    (71)申请人苏州中航天成电子科技有限公司

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