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通过XRD测织构的数据分析试样的残余应力和位错密度

Q:

在一篇博士论文里看到可以通过XRD测织构的数据来分析试样的残余应力和位错密度，如何分析呢？

A:

XRD测位错密度，可以近似的取半波宽来确定。

其实只是个比较的测量方法，也就是说，你可以通过不同材料或者不同处理制度得到的XRD峰值半波宽来比较位错密度的大小。

如果需要精确得到位错密度，还需要在TEM下测量伯格斯矢量

忘了说残余应力了。

我只在X射线应力仪上做过，衍射仪应该道理是一样的。

在使用衍射仪测量应力时，试样与探测器θ-2θ关系联动，属于固定ψ法。通常ψ=0°、15°、30°、45°测量数次。

当ψ=0时，与常规使用衍射仪的方法一样，将探测器(记数管)放在理论算出的衍射角2θ处，此时入射线及衍射线相对于样品表面法线呈对称放射配置。然后使试样与探测器按θ-2θ联动。在2θ处附近扫描得出指定的HKL衍射线的图谱。当ψ≠0时，将衍射仪测角台的θ-2θ联动分开。先使样品顺时针转过一个规定的ψ角后，而探测器仍处于0。然后联上θ-2θ联动装置在2θ处附近进行扫描，得出同一条HKL衍射线的图谱。

最后，作2θ-sin2ψ的关系直线，最后按应力表达σ=K·Δ2θ/Δsin2ψ=K·M求出应力值，

通过半高宽可知位错密度，但是需要有model来算。如果你们组里没人搞这个，建议你还是放弃吧，自己肯定做不出来。

我们组里有个师兄做金属基复合