基于球栅阵列引线键合封装结构的热特性与热应力研究的中期报告.docxVIP

基于球栅阵列引线键合封装结构的热特性与热应力研究的中期报告

前言

球栅阵列引线键合封装结构（CGA）作为一种新型的封装结构，在近年来得到了广泛的应用。由于其引线密度大、电性能好、尺寸可控等优点，CGA封装结构在集成电路封装中已成为一种主流的封装结构。然而，由于其独特的结构设计，CGA封装结构在工作过程中会遭受硬质焊料液态热膨胀和封装体变形带来的热应力问题，这种热应力问题会对芯片的可靠性产生重要影响。本文对于CGA封装结构的热特性及热应力问题进行了初步的研究，并取得了一些初步结果与分析。

一、CGA封装结构的热特性分析

CGA封装结构主要由芯片、引线和基板三部分组成。其中，芯片是整个封装结构的核心部件，引线则起到了连接芯片和基板的作用，而基板则作为整个封装结构的支撑。在CGA封装结构中，芯片的主要热源是由于其内部电路元件的功耗所导致的热量释放。当芯片功耗增加时，其内部的温度也会相应增加，这样就会引起整个封装结构中的热传导问题。为了分析CGA封装结构中的热特性，需要对其内部的热传导进行详细的分析和计算。

1.CGA封装结构的热传导分析

在CGA封装结构中，由芯片释放的热量首先被传导到引线上，然后再由引线传导到基板上。由于引线从芯片出发的位置、结构、形状等因素的影响，各个引线所承受的热量大小和热传导方式都有所不同。同时，在CGA封装结构中，引线之间的距离很小，容易发生热量的交叉和传递。因此，要准确地计算CGA封装结构中各个部分的热传导问题，需要采用热传导方程进行计算。

2.CGA封装结构的热传导模型

在通过引线传导热量到基板时，需要考虑引线的热阻和热容问题。同时，还需要考虑基板材料的热导率和热容问题。根据这些基本参数，可以建立CGA封装结构中的热传导模型。通过研究热传导模型，可以得出CGA封装结构中的热传导方程和热流密度分布等参数。这些参数对于CGA封装结构的热特性分析和设计具有非常重要的意义。

二、CGA封装结构的热应力问题分析

CGA封装结构在工作过程中，由于芯片内部的功耗和材料的热膨胀差异等因素的影响，会产生比较大的热应力。在一定范围内，热应力可以通过材料的弹性变形来消除，但是当热应力超过一定限度时，就会引起材料的破裂和损坏。因此，热应力问题对于CGA封装结构的可靠性和使用寿命具有至关重要的意义。

1.CGA封装结构的热应力计算

CGA封装结构中的热应力是通过热膨胀系数和材料弹性模量等参数进行计算的。当CGA封装结构内部的温度发生变化时，其中的每一个引线和基板都会发生一定的热膨胀，这样就会引起热应力的产生。为了计算CGA封装结构中的热应力问题，需要建立热应力计算模型，并采用数值仿真方法进行计算。

2.CGA封装结构的热应力分析

通过热应力计算模型的建立和数值仿真方法的应用，可以对CGA封装结构中的热应力进行全面的分析和评估。这样可以确定CGA封装结构中的主要热应力影响因素，以及可能产生的热应力损伤程度和发生破坏的可能性大小等问题。通过这些分析结果，可以指导CGA封装结构的设计和制造，提高其可靠性和使用寿命。

三、结论与展望

通过对CGA封装结构的热特性和热应力问题进行初步的研究，可以看出其在工作过程中所面临的问题和挑战。为了使CGA封装结构能够具有更好的可靠性和使用寿命，需要对其内部的热传导和热应力问题进行深入的研究和分析，并制定相应的热应力控制和防护措施。同时，随着科学技术的不断进步和新材料的开发，CGA封装结构的可靠性和使用寿命也会得到进一步的提高和优化。总之，CGA封装结构的研究和应用具有广阔的发展前景和应用空间。