半导体制冷片制冷功率测试.docx

  1. 1、本文档共3页,可阅读全部内容。
  2. 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多

半导体制冷片制冷功率测试

2014-4-7-XTECH

测试系统包括设备

20A大功率精密恒流恒压电源;

TEC制冷控制器:TEC-10A;

TEC制冷片定制12706;

大功率散热片及风机,热端散热良好;

12V10A开关电源;

二测试方案

测试系统采用热源和TEC制冷相结合,精密恒流恒压电源盒半导体整流器作为热源部分;12V10A电源、TEC-10A控制器、TEC制冷片、DS18B20、散热片作为制冷稳定控制温度的部分。结构图参加图1所示。

图1TEC半导体制冷片测试方案图

使用半导体整流器作为热源,它和半导体激光器的效果非常类似,都是半导体器件,导热、散热方式雷同,如图2所示。

测试中,通过调节精密恒流恒压电源输出电流电压大小,半导体整流器上获得的热功率可任意设定,散热片散热的热阻很小,是一个非常良好的导热体。

1

三测试数据

图2半导体整流器和半导体激光器等效图

测试条件

工作电压12.5V;环境温度: 21.5°~22.5°表1:测试数据

热源电流

热源电压

热源功率

稳定控制温度

(A)

(V)

(W)

(摄氏度)

1

1.62

1.62

2.875

2

1.64

3.28

5.6875

3

1.66

4.98

7.5

4

1.66

6.64

9.125

5

1.66

8.3

11.1875

6

1.66

9.96

13.5

7

1.65

11.55

16.1875

8

1.66

13.28

18.375

9

1.65

14.85

20.3125

10

1.68

16.8

21.4375

11

1.64

18.04

22.5

12

1.64

19.68

24

13

1.63

21.19

25.625

14

1.63

22.82

29.0625

15

1.63

24.45

30.5625

16

1.62

25.92

31.1875

17

1.62

27.54

33.4375

18

1.62

29.16

35.3125

19

1.62

30.78

37.4375

20

1.62

32.4

40.625

2

四测试可靠性分析

图3热源功率控制温度图

测试中根据采用的导热硅脂、涂抹导热硅脂的多少、环境温度变化等原因,导致测量结果会有一度至两度的误差。

五结论

测试结果打破了市场上TEC制冷片超高制冷效果的谎言,实验意义在于指导工程师在温度控制中更加切合实际的选择TEC,减少工程师在TEC特性上的摸索时间。测试中采用了价格较为昂贵的TEC片,通过电流为6A;稳定温度为环境温度为22°时,TEC吸收热功率最大为17W;稳定温度到40°时,TEC吸收热功率最大为32W;稳定温度到5°时,TEC吸收热功率最大为3W。可见控制目标温度不同,能够吸收的热量大小不同,设定目标温度高,吸收热量高;设定目标温度低,吸收热量小。

3

您可能关注的文档

文档评论(0)

hao187 + 关注
官方认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

认证主体武汉豪锦宏商务信息咨询服务有限公司
IP属地上海
统一社会信用代码/组织机构代码
91420100MA4F3KHG8Q

1亿VIP精品文档

相关文档