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1.4质谱仪与回旋加速器
模块一知识掌握
知识点一质谱仪
【情境导入】
如图所示为质谱仪原理示意图.设粒子质量为m、电荷量为q,加速电场电压为U,偏转磁场的磁感应强度为B,粒子从容器A下方的小孔S1飘入加速电场,其初速度几乎为0.则粒子进入磁场时的速度是多大?打在底片上的位置到S3的距离多大?
【知识梳理】
1.构造:主要构件有加速、偏转和照相底片.
2.运动过程(如图)
(1)加速:带电粒子经过电压为U的加速电场加速,=eq\f(1,2)mv2.由此可得v=eq\r(\f(2qU,m)).
(2)偏转:垂直进入磁感应强度为B的匀强磁场中,做匀速圆周运动,r=eq\f(mv,qB),可得r=eq\f(1,B)eq\r(\f(2mU,q)).
3.分析:从粒子打在底片D上的位置可以测出圆周的半径r,进而可以算出粒子的.
4.应用:可以测定带电粒子的质量和分析.
【重难诠释】
1.带电粒子运动分析
(1)加速电场加速:根据动能定理,qU=eq\f(1,2)mv2.
(2)匀强磁场偏转:洛伦兹力提供向心力,qvB=eq\f(mv2,r).
(3)结论:r=eq\f(1,B)eq\r(\f(2mU,q)),测出半径r,可以算出粒子的比荷eq\f(q,m).
2.质谱仪区分同位素:由qU=eq\f(1,2)mv2和qvB=meq\f(v2,r)可求得r=eq\f(1,B)eq\r(\f(2mU,q)).同位素的电荷量q相同,质量m不同,在质谱仪照相底片上显示的位置就不同,故能据此区分同位素.
(2022秋?宿迁期末)应用质谱仪测定有机化合物分子结构的方法称为质谱法,先在离子化室A中将有机物气体分子碎裂成两种带正电的离子,离子从下方的小孔S飘入电势差为U的加速电场,其初速度几乎为0,然后经过S1沿着与磁场垂直的方向进入匀强磁场中,最后打到照相底片D上,形成a、b两条质谱线,则()
A.打到a处的离子的比荷小
B.两种离子进入磁场时的速度相同
C.匀强磁场的方向为垂直纸面向里
D.两种离子在磁场中的运动时间相等
(多选)(2023春?宁河区期末)如图所示是某种磁式质量分析器的结构原理图,此分析器由以下几部分构成:粒子源、加速电场、磁分析器、收集板。一质量为m、电荷量为+q的带电粒子从粒子源无初速度的从S小孔飘入加速电场,经电压U加速后,从P点垂直边界进入磁分析器,最后垂直的打在收集板上的Q点,已知磁分析器中的偏转磁场是一个以O为圆心的扇形匀强磁场,磁感应强度的方向垂直纸面向外,OP=l。若不计带电粒子的重力,收集板刚好和磁分析器的OB边界重合。则下列说法正确的是()
A.偏转磁场的磁感应强度的大小B=
B.偏转磁场的磁感应强度的大小B=
C.只增大加速电压U,粒子可能会落在收集板上的M点
D.只减小加速电压U,粒子可能会落在收集板上的M点
(多选)(2023春?瑶海区期中)如图所示是质谱仪的工作原理示意图;带电粒子被加速电场加速后,进入速度选择器。速度选择器内有相互正交的匀强磁场和匀强电场,磁场的磁感应强度为B、电场的电场强度为E,平板S上有可让粒子通过的狭缝P和记录粒子位置的胶片A1A2,其中OP与速度选择器的极板平行。平板S下方有磁感应强度大小为B0的匀强磁场,方向垂直于纸面向外,通过狭缝P的粒子最终打在胶片A1A2上的D点,且PD=L,不计带电粒子所受的重力及粒子间的相互作用力,下列表述正确的是()
A.速度选择器中的磁场方向垂直于纸面向里
B.能通过狭缝P的带电粒子的速率等于EB
C.该粒子的比荷qm
D.若改变加速电场的电压U,粒子一定能通过狭缝P打在胶片上
(2023春?海淀区校级期末)一台质谱仪的工作原理如图所示,电荷量为q、质量为m的正离子,从容器A下方的小孔飘入电压为U的加速电场,其初速度几乎为0。这些离子经加速后通过狭缝O沿着与磁场垂直的方向进入匀强磁场中,最后打在照相底片MN的中点P上。已知,放置底片的区域MN=L,且OM=L。
(1)求离子进入磁场时的速度v的大小;
(2)求磁场的磁感应强度B的大小;
(3)某次测量发现底片MN左侧包括P点在内的区域损坏,检测不到离子,但右侧区域仍能正常检测到离子。若要使原来打到底片中点的离子可以被检测,在不改变底片位置的情况下,分析说明可以采取哪些措施调节质谱仪。
知识点二回旋加速器
【情境导入】
回旋加速器两D形盒之间有窄缝,中心附近放置粒子源(如质子、氘核或α粒子源),D形盒间接上交流电源,在狭缝中形成一个交变电场.D形盒上有垂直盒面的匀强磁场(如图所示).
(1)回旋加速器中磁场和电场分别起什么作用?对交流电源的周期有什么要求?在一个周期内加速几次?
(2)带电粒子获得
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