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2024-05-28 发布于重庆
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摘要本文件主要介绍了无损检测中磁记忆检测的相关术语和定义无损检测是现代信息技术的重要组成部分，对于维护设备安全提高运行效率具有重要意义磁记忆力测试是一种无损检查方法，用于检测物体内部是否有损伤，从而避免设备因外部因素而受损磁记忆力检测的标准包括GBT1260410—2023和GBT1260410—2011，适用于各种类型的设备参考文献此处可添加更多相关参考资料，但请注意，这些并不是全文的摘要，而是部分信息150字以内1标题无损检测中的磁记忆

ICS19.100

CCSJ04

中华人民共和国国家标准

GB/T12604.10—2023

代替GB/T12604.10—2011

无损检测术语第10部分：磁记忆检测

Non-destructivetesting—Terminology—Part10:Magneticmemorytesting

2023-05-23发布2023-05-23实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

GB/T12604.10—2023

前言Ⅲ

引言IN

1范围l

2规范性引用文件1

3术语和定义1

附录A(资料性)本文件删除GB/T12604.10—2011的术语10

附录B(资料性)本文件与GB/T12604.10—2011相比增加的术语11

附录C(资料性)本文件与GB/T12604.10—2011相比修改的术语12

参考文献13

索引14

图1磁记忆信号平面显示图5

图2磁记忆信号时基显示图6

图3磁记忆信号扫描显示图

图4磁记忆信号极坐标显示图7

图5磁记忆信号色斑显示图8

图6磁记忆信号三维显示图9

图7磁记忆信号管状显示图9

表A.1本文件删除GB/T12604.10—2011的术语10

表B.1本文件与GB/T12604.10—2011相比增加的术语11

表C.1本文件与GB/T12604.10—2011相比修改的术语12

GB/T12604.10—2023

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定

起草。

本文件是GB/T12604《无损检测术语》的第10部分。GB/T12604已经发布了以下部分

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