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本实用新型公开了一种反光式高反光材料用测量装置,具体涉及光学仪器测量领域,包括显示组件,所述显示组件的底部贯穿有滑轨,所述滑轨的一端固定连接有限位板,所述滑轨的另一端固定连接有底座,所述底座的正面贯穿有夹持座,所述夹持座的顶部放置有被测原材,所述底座的顶部固定连接有二号电动推杆,所述二号电动推杆的顶部固定连接有相机本体,然后需要进行调节的时候将显示组件在滑轨上进行滑动,在需要调节与被测原材之间的间距的时候使用底座来带动夹持座的距离进行调节,在调节过程中带动被测原材进行同步调节,在使用时可以有效的
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号CN221006239U
(45)授权公告日2024.05.24
(21)申请号202322342020.4
(22)申请日2023.08.30
(73)专利权人苏州迪普科技有限公司
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