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本发明基于改进YOLOv7的PCB表面缺陷检测方法属于深度学习和质量检测技术领域；该方法针对YOLOv7算法在特征提取阶段无法有效捕捉图像中关键特征的问题，引入了CBAM注意力机制，提升了0.93％的mAP指标；针对损失函数在处理目标位置误差和大小误差时不够准确的问题，引入了Focal‑EIOU损失函数，提升了0.19％的mAP指标；针对传统的ReLU激活函数无法很好处理空间特征信息的敏感性问题，引入了FReLU激活函数，提升了1.31％的mAP指标。改进后的YOLOv7算法的mAP指标提高了3
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN118071715A
(43)申请公布日2024.05.24
(21)申请号202410266752.6
(22)申请日2024.03.08
(71)申请人哈尔滨理工大学
地址15008
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